株式会社 テックサイエンス
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各種測定分析装置で、受託試験・受託測定を承ります。複数装置による測定比較もできます。
試料とデータの秘密保持のため秘密保持契約を履行します
そのほかの測定についてはお問合わせ下さい


製品ニュース
逆光電子分光装置IPESのサンプル測定を承ります


製品分類
表面特性分析

AFM・STM・SPM

AFMプローブ・カンチレバー

三次元微細形状測定装置

光電子分光測定

LEED電子線回折装置

イオン化ポテンシャル
仕事関数

磁気センサーマイクロセンサ

材料

バイオ表面解析

測定事例

校正標準リーク
 
受託分析 受託測定

受託測定 受託試験
製品名 試験項目 製品名 試験項目
走査型ケルビンプローブ 
半導体・有機薄膜・OELD膜・ITO膜等の仕事関数を測定します
受託試料サイズ
<50x50mm 
イオン化ポテンシャル測定装置PYS  
有機薄膜・燃料電池薄膜の 仕事関数とイオン化ポテンシャルを測定
大気中と真空中で測定できる 受託試料サイズ
<20mm角
一体型NaioAFM サンプルサイズ
φ12mm程度
逆光電子分光装置IPES PYSと別に単独でサンプル測定します
原子間力顕微鏡
レンズAFM


テックサイエンスの三次元表 面形状測定装置に装着して 測定、
またはスタンドアロー ン のAFMで測定します
フレックスAFM サンプルステージありの装置では、サンプルサイズは
<100mm。
最大ペトリ高さは9mm、液中6mm
SURFスライドガラス基板


ナノワイヤや生体試料の<60nm薄膜をのせたナノスライドガラス基板を測定します。スライドガラス基板を貸出しもできます。
3D画像化は当社で可能です
接触式/非接触式1台3役3D表面形状測定装置NanoMap-D

3D微細表面形状と粗さ測定
500umx500umから
50mmx50mm

触針式粗さ計と白色干渉計と走査型プローブ顕微鏡で測定
走査型プローブ顕微鏡 1台2役接触式形状測定装置

触針式粗さ計と走査型プローブ顕微鏡で測定

最適の測定装置と条件をレポートします

高解像度白色干渉計
サンプル高さ<50mmでお願いします。
SPIPsoftware を使用

対物レンズ 2.5x〜
        50x
接触角測定装置 動的接触角を測定して、ぬれ性清浄度、接着性のレポートを作成します

表面自由エネルギー分析
表面張力測定
   
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