株式会社 テックサイエンス
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製品NEWS
2017年2月
プリンタートナー粒子の不良解析やリチウムイオン電池の材料解析に採用

2017年1月
PiFMのデータと文献を用意しています。ご希望の方はお知らせください

2016年4月
詳細な仕様・原理・hyPIRケミカルイメージングを掲載します
2016年1月
米国MolecularVista社が開発した光誘起力をつかったフォース顕微鏡VistaScopeです
製品分類
表面特性分析

AFM・STM・SPM

AFMプローブ・カンチレバー

三次元微細形状測定装置

光電子分光測定

LEED電子線回折装置

イオン化ポテンシャル
仕事関数

磁気センサーマイクロセンサ

ナノ材料

バイオ表面解析

ナノサーマル熱分布測定

測定事例

校正標準リーク

受託分析 受託測定




  IR光誘起力顕微鏡 PiFM VistaScope
 ナノレベル赤外分光イメージングAFM

Photo-induced Force Microscope(PiFM)とよぶ新技術の光誘起力顕微鏡[VistaScope]です。
特定波長のレーザー光を照射して試料分子AFMチップ
光誘起させて、試料とAFMチップ間の相互作用を検出し高分解能のケミカルイメージ像を作成します。高分子試料とAFMチップ間に働く力の領域が非常に狭く(<10nm)、空間分解能<10nmのケミカルイメージと高分解能のスペクトル(分解能<1cm−1)が取得できます。
s-SNOMやPTIR,nanoIRより容易に高分解能測定が行えます。
SEMと同等レベルの有機材料等のナノマッピングが大気中でできる点は画期的な優位点です。 レーザ光の波長の違いにより、励起
される高分子が変わるため、材料組成の違いを高分解能で画像化できます。QCLレーザを各ピクセル毎に高速走査し全てのピクセルで高解像度のhyPIR(ハイパースペクトラルPiFM)イメージを54分で取得できます。

MolecularVista社の設立者はDr.Sung Park(元ParkScientific社の共同設立者)とProf.Kumar Wickramsinghe (カリフォルニア大学アーバイン校教授,元IBMフェロー)らです。

Dr.KumarとDr.Sung Park

VistaScope がs-SNOM、PTIR(AFM-IR)より優れている特長
空間分解能<10nmのケミカルイメージ
高分解能<1cm-1のスペクトル
ハイパースペクトラルPiFM機能
数nmの薄膜試料も測定可能
高速測定   

VistaScope
主なapplication

◆トナー粒子の不良解析
◆EUV露光の研究開発
◆各種蛍光標準試薬の組成イメージング像
リチウムイオン電池の材料解析
◆コラーゲン組成イメージング像
MoS2各層イメージング像
◆PS-b-PMMA組成イメージング像
◆PS-b-P2VP組成、PS-b-PTMSS組成イメージング像
◆高分子ブレンド有機太陽電池組成イメージング像
◆分子の結合状態をナノレベルマッピング
  Polymer filmアプリケーションノート

PiFM装置
VistaScope
システム構成

■ AFMヘッド
■ レーザー光源
■ サンプルステージ
■ 除振台
■ コントローラー
■ PC
■ イメージ解析ソフトウェア
■ CCDカメラ

メーカー MolecularVista

PiFMと hyPIRの概要を説明します

hyPIRによるPS-P2VPブロックコポリマー測定の動画



光誘起力顕微鏡の測定原理

測定原理
PiFMはAFMとレーザー光を組み合わせた測定手法です。
試料とAFMチップに特定波長のレーザー光を照射したとき、その光波長に特に反応(誘起)する特定の材料があります。その誘起された材料と誘起されたAFMチップを近づけることにより、材料の相互作用が検出されます。
高分子試料とAFMチップ間に働く力の領域が非常に狭く(<10nm)、高分解能の化学イメージ(空間分解能<10nm)と高分解能のスペクトル(分解能<1cm−1)が取得できます。
この誘起力をAFMで検知することで、AFM像だけでなくケミカルイメージングをナノレベルで高精度、高分解能に観察することができます。


Photoinduced Force Microscopy測定画像


PS/PMMAのケミカルイメージング像
PiFMはAFM像とケミカルイメージング像の両方を取得することができます。赤枠はAFM像、青枠はレーザー光の波長を変えたケミカルイメージングです。AFM像単体ではPSとPMMAの区別が明瞭に分かりませんが、PiFM測定を行うことにより、両者がナノレベルの高分解能ではっきりと区別できています。

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