株式会社 テックサイエンス
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製品NEWS
2017年1月

CSI社の最上位AFM Nano-Observerは
電気力顕微鏡、ケルビンフォース顕微鏡、磁気力顕微鏡、熱顕微鏡、走査型MIM顕微鏡などの機能を持つ高精度原子間力顕微鏡です。

製品分類
表面特性分析

AFM・STM・SPM

AFMプローブ・カンチレバー

三次元微細形状測定装置

光電子分光測定

LEED電子線回折装置

イオン化ポテンシャル
仕事関数

磁気センサーマイクロセンサ

ナノ材料

バイオ表面解析

ナノサーマル熱分布測定

測定事例

校正標準リーク

受託分析 受託測定




  HD-KFM 高精細ケルビンフォース顕微鏡

Nano-Observerは、標準のKFMケルビンフォースモードに加え、HD-KFMモードを備えています。 HD-KFMモードは表面ポテンシャルの感度と解像度が大幅に向上します。
High Definition Kelvin Force Microscope
応用分野
材料分析・半導体・電池・高分子膜・生体試料

標準KFMモード
HD-KFMモード
KFM_Standard
HD_KFM
Normal_KFM_Image
標準KFM によるグラフェンの測定 走査範囲:8um
HD-KFMで測定したグラフェン
HD-KFMによるサンプル:グラフェン測定 走査範囲:8um

グラフ
             白: 標準KFMモード          赤: HD-KFMモード

測定モード
標準モード
コンタクトモード
オシレーションモード
スペクトロスコピー
FMMモード

Nano-ObserverAFM

追加モジュール
Resiscope
ソフト-Resiscope

SThM熱分析AFM


特殊測定モード
電気力顕微鏡
磁気力顕微鏡
ケルビンフォース顕微鏡
ピエゾフォース顕微鏡
導電性AFM
走査トンネル顕微鏡
測定環境
液中測定仕様
温度調整

環境制御




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