株式会社 テックサイエンス
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  取扱製品 Products
Surface Analysis  表面特性分析 仕事関数 機械特性 電気特性
 MEMSデバイス評価試験プローブステーション  マイクロ材料マルチ評価試験装置
 コンパクトCoreインデンター  SEM/FIB対応ナノメカニカル試験装置
■  高温対応ナノインデンター押圧試験機 ■  走査型ケルビンプローブ
■  光起電力分光ケルビンプローブ ■  UHV対応ケルビンプローブ
■ イオン化ポテンシャル測定装置PYS ■ イオン化ポテンシャル測定の測定事例
分子間相互作用解析装置 ■ 接触角表面分析装置 VCA Optima-XE

AFM STM SPM  原子間力顕微鏡 プローブ・カンチレバー
 Nano-ObserverAFMナノオブザーバー  AFM電流増幅器Resiscope
 ケルビンフォース顕微鏡HD-KFM ■ AFMナノ領域熱分析測定装置・AFM-IRサーマルプローブ
一体型AFM NaioAFM  一体型STM NaioSTM
■ 光誘起力顕微鏡PiFM ナノIR ■ AFMプローブ・カンチレバー
 三次元画像化ソフトSARFUS  円錐型AFMプローブカンチレバー

Bio バイオ関連分析 
光誘起力顕微鏡  分子間相互作用解析装置
■ ナノサーマル顕微鏡 ■ AFMナノフォース測定装置
 SURFスライドガラス基板 ■ 生体分子ライブ観察顕微鏡

 コンパクト1台3役高速3D形状測定装置Slynx ■ 1台3役高速3D形状測定装置Sneox
■ 非球面レンズ非接触形状測定装置PluApex ■ コンパクト段差計NanoMap-PS
 触針式段差計 NanoMap-LS ■ シリンダー内面検査装置
 段差計プラス走査型プローブ顕微鏡NanoMap-500LS ■ 段差計プラス白色干渉計NanoMap-D

XPS LEED  光電子分光測定・低速電子線回折装置
■ 低速電子線回折装置関連製品
   ┣ 低速電子線回折装置LEED-AES デジタル電子線回折装置制御器
   ┣ 低速電子線回折装置MCPLEED-AES LEED画像解析装置
   ┣ 低速電子線回折装置Mini-LEED/AES 低速電子線回折装置FEMTO-LEED
■ 光電子分光装置関連製品
   ┣ IPES逆光電子分光装置 ELS用低エネルギー電子銃
   ┣ PYS光電子収量分光装置  スパッタイオン源
   ┣ ツインアノードX線源 高真空対応マグネトロンスパッタ源
   ┣ オージェ(AES)電子銃 電子振動型イオン源
   ┣ エッチングイオン源 半球型電子アナライザ
  イオン源の比較表 イオン光学系シミュレーションソフトウェア SIMION 3D 8.1
 
ナノ・マイクロ材料 磁気センサー
  金属単結晶 酸化物単結晶・合金単結晶   金属ナノ粒子 QSI-Nano
  磁気センサー ■  AFMSTMの標準試料
   

サンプル別の測定事例
 
■ 太陽電池薄膜の測定 ■ 生体薄膜を測る
 燃料インジェクターを測る ■ グラフェンを測る
■ コーティングを評価する ■ 生きたバクテリアを測る
■  高輝度LEDのPSS基板を測る  細胞の硬さを測る
■ イオン化ポテンシャル測定事例 ■ 食中毒菌をNaioAFMで測る
 Calibrated Leaks  校正標準リーク
 ヘリウム・各種ガス・冷媒ガス流量校正製品
   ┣校正スタンダードリーク 開放型キャピラリーリーク
   ┣スニファ標準リーク 多目的校正スタンダードリーク
   ┣ ヘリウムスニファリーク 標準混合ガス質量分析校正器
   ┣ 冷媒パーメーションリーク Heパーメーションリーク
   ┣ NISTトレーサブル再校正サービス 高精度Heパーメーションリーク
   ┣冷媒リークスタンダード 液体パーメーションリーク
 Contracted analysis    受託測定
 受託試験 表面形状測定   接触角測定
■  仕事関数性測定  PYS測定

 

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